晟普康科技SPK系列带电清洗剂的应用--综合污染对通讯设备的影响

我们从以下几个方面分析环境对设备造成的危害：

电子探针是电镜、波谱与能谱的总称。这种方法对分析固体颗粒状污染物的大小与成分是十分有效的手段。现在已经知道，无论精密电子设备的密封程度有多好，在我国目前的环境条件下，被密封保护的印制模块仍然会受到污染，而且，有时为了散热的需要，不能做到完全密封，因而设备受到污染是不可避免的。我们以机房环境较好的通信设备作为例子。可以从运行的通信设备上收集到一些非常细微的粉尘污染物。 那么，这些污染物到底有多大呢?其成分又是什么呢?

它们到底对设备有没有影响以及有什么影响?针对这种情况，我们探讨了以电子探针的方法进行评估。

我们对从通信设备上收集到的一些粉尘作了扫描电镜观测，所收集到的粉尘是一些大小不等的颗粒状或丝状污染物， 直径可达1mm,小的也有0. 1mm。对于微电技术，其模状在生产线上时，对其残留物的直径要小于0.1mm.即使超精密工业清洗对洁净度要求很高，但产品交付使用一段时间后,或多或少受到污染。

还有一个关键问题是，这些固体污染物到底是些什么?它们的存在对电子设备有没有影响?对此，我们又作了能谱分析。在这些污染物中存在铁与锡等可导电的金属粉尘及盐污。有些粉尘明显来源于建筑材料。在元器件与线路越来越细微化的今天，若它们大量的堆积在电路板表面，会对电子元器件的散热造成如下影响:

(1) 使元器件表面的温度升高。数据表明，当温度升高10'C,设备的可靠性将下降25%; 当温度继续上升， 可能会将温度性较差的元件或者接线烧坏。

(2) 产生静电。当静电积累到一定程度，防碍它中和的绝缘体再也阻挡不住时，即发生剧烈放电，即静电放电(ESD) , 这时的最高电压可达几千乃至几万伏，势必对静电敏感组件造成损害;静电放电(ESD)及电气过载(EOS)对电子元器件造成损害的主要机理有热二次击穿、金属镀层熔融、介质击穿、气弧放电、表面击穿等等。

综合污染对通讯设备的影响：

大家知道，各类通讯设备均使用了大量易受环境条件影响的电子元器件，机械构件及各种材料。如果机房环境条件不能很好地满足这些设备对环境的使用要求，加之设备长期连续运转，就会降低设备的可靠性，加速元器件及某些材料的老化，缩短设备的使用寿命，甚至丢失重要的数据，产生误码和出现误动作等软性故障，进而导致相应的硬件故障。

首先，灰尘是首当其充的污染物，不论机房采用何种建筑结构，机房内的灰尘都是不可能避免的。由于通讯设备在工作中，其各种电路自然形成相应的电磁场、静电场分布，产生对灰尘较强的吸附作用，日积月累， 沉积在集成电路和其它电子元器件上，明显降低其散热性能。此时，尽管机房的环境温度可能在正常范围内，但某些电路却处在高温状态下工作(尤其是电源部分，大规模集成电路和大电流工作的电源部分)，致使半导体器件的结温过高，反向穿透电流和电流倍数增大，又促使结温进一步升高，轻则引起设备工作不稳定，重则导致热击穿:电阻器、电容器的参数发生不同程度的变化; 一些绝缘材料的高温损耗(即漏电损耗)增加;加速某些印制插头和金属簧片的腐蚀，使其接触电阻增加。

空气中的水份、盐份、油烟和各种有害气体等，逐渐与灰尘结合，形成导电型的微电路，使设备的工作性能发生变化;而某些地方形成不同程度的绝缘，使其接触不良，氧化和腐蚀程度进一步增加。

第三，对于通讯系统的输入输出设备，灰尘的介入污染了磁头、磁带和磁盘，造成机械损伤，丢失或毁坏信息，而且使磁带、软盘、磁头和磁盘持续工作在高温之下。其磁介质的磁导率增加乃至失夫磁性，严重影响数据的传输、外理和存取。

所以这些情形的发生，我们称其为通讯设备的综合污染，其结果是各种软性故障频频发生，并且令人难以分析和处理。

应用国内现已比较成熟的高指标、高性能的通讯设备清洁剂进行带电清洗，从而达到有效地消除“软性故障"的目的。由于此类产品做到了无腐蚀，高绝缘，完全挥发，表面张力低，溶解力高，能从零件表面分隔水份及油污，高毛细管作用使清洁剂能深入微小缝隙，达到清洗，其综合效果往往是事半功倍。同时，运用公司研制的全程数据监控带电清洗技术，对清洗过程进行全程监视和实时控制，更有效地保证了带电清洗工作的顺利进行和被清洗设备的高度安全。

带电清洗，可以在不停电的设备上进行清洗，由电科院培训通过的清洗人员使用工具、绝缘清洗剂按规程进行清洗，在安全的基础上有效清除设备表面和深层的金属粉尘、干粉尘等污染物，降低因污染物而引起的设备故障（如造成设备误动、短路，接触不良，通风不良等故障），提升设备运行效率，使他们恢复到较好工作状态，并且延长设备使用寿命，达到安全的目的。

以下是带电清洗前后对比图：